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涂層測(cè)厚儀 涂鍍層厚度測(cè)試儀

更新時(shí)間：2016-05-13點(diǎn)擊次數(shù)：1259

涂層測(cè)厚儀  涂鍍層厚度測(cè)試儀

型號(hào)：LT/MiniTest600B-FN

德國(guó)EPK公司（Elektrophysik)一直致力于開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)各種用于表面處理行業(yè)的精密測(cè)量的涂層測(cè)厚儀。作為無(wú)損涂層厚度測(cè)量領(lǐng)域的，EPK公司與各標(biāo)準(zhǔn)化組織和研究院一道，成功地推進(jìn)了涂層厚度檢測(cè)在世界范圍內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)化進(jìn)程。大量的技術(shù)與成果表明EPK公司是該涂層檢測(cè)的*。
儀器特點(diǎn)：

1.小巧實(shí)用、測(cè)量快速
2.探頭頂部由非常耐磨的硬質(zhì)材料制成
3.F型探頭用于鋼鐵上的非磁性涂鍍層，如測(cè)量油漆厚度、塑料厚度、搪瓷厚度、鉻厚度、鋅厚度等
4.N型探頭用于有色金屬(如銅、鋁、奧氏體不銹鋼)上的所有絕緣層，如陽(yáng)極氧化膜、油漆、涂料等涂層厚度測(cè)試
5.FN型探頭為開(kāi)發(fā)的兩用探頭，可以在磁性和非磁性基體上自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)量等涂層厚度測(cè)試

技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量范圍F型：0～3000um
1N型：0～2000um
1FN型：0～3000um（F）；0～2000um（N）
誤差±2um或±2～4%
zui小曲率半徑5mm（凸）；25mm（凹）
zui小測(cè)量面積φ20mm
zui小基體厚度0.5mm（F）；50um（N）
顯示4位數(shù)顯，背光可選
測(cè)量單位um-mils可選
校準(zhǔn)方式標(biāo)準(zhǔn)、一點(diǎn)、兩點(diǎn)
統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差S、讀數(shù)個(gè)數(shù)n（zui多9,999個(gè)）、zui大值max、zui小值min（不適合于B型）
接口RS232（不適合于B型）
電源2節(jié)5號(hào)電池
儀器尺寸64×115×25mm
探頭尺寸φ15×62mm


標(biāo)準(zhǔn)配置：

主機(jī)、 探頭、 零板和厚度標(biāo)準(zhǔn)箔、 電池、 操作說(shuō)明、 儀器包

可選型號(hào)
MiniTest 600B涂層測(cè)厚儀：(基本型，無(wú)統(tǒng)計(jì)功能和接口)
MiniTest 600BF涂層測(cè)厚儀(600B-F3)
MiniTest 600BN 涂層測(cè)厚儀(600B-N3)
MiniTest 600BFN涂層測(cè)厚儀(600 B-FN3)

MiniTest 600(統(tǒng)計(jì)型)涂層測(cè)厚儀有以下型號(hào)：
MiniTest 600F涂層測(cè)厚儀(600F3)
MiniTest 600N 涂層測(cè)厚儀(600N3)
MiniTest 600FN涂層測(cè)厚儀(600FN3)