能量分散型X射線熒光分析儀  元素分析儀

型號：GR/JSX-3400R

新型號x射線熒光光譜儀，是日本電子株式會社2006年6月的升級版能量色散型光譜儀，是一直以來受用戶好評的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步升級產(chǎn)品。該設(shè)備具有出眾性能指標(biāo)，不僅能很好對應(yīng)rohs指令、elv指令和其它環(huán)境指令相關(guān)元系分析，指令以外的一般元素也能在高感度下測試分析。

　 主要特點(diǎn)：液氮制冷型探頭、世界zui高探頭等分辨率、同等時(shí)間內(nèi)zui高檢出限度、測試時(shí)間短、各類優(yōu)異軟件、能量過濾裝置等。該產(chǎn)品世界各地，在同類型產(chǎn)品中性能，其穩(wěn)定優(yōu)異性能深受廣大用戶的好評與青睞。

特點(diǎn)

* 短距離傳導(dǎo)光路

* zui高分辨率檢測探頭

* 低檢測下限

* 短測試時(shí)間

* 射線過濾機(jī)構(gòu)

* 補(bǔ)正檢量線法

* 簡單的操作界面

* 膜厚測定軟件

* 焊錫鍍層成分分析軟件

規(guī)格:

分析范圍:　na to u(cd,pb,cr,hg,br)

x射線管: 　rh-tube,50kv-1.0ma

樣品室: 　 300mmφ-160mmh

樣品托: 　 1, 16（選購）

準(zhǔn)直器:　　ф 1mm；ф3mm； ф7mm

過濾器: 　 4種

樣品環(huán)境: 大氣，真空（選購）

軟   件:   環(huán)境分析軟件包

日本電子制造的JSX-3400R是靈敏度和操作性大幅提高的能量分散型x射線熒光分析儀，不僅可用于一般性分析，還可用于rohs與elv的審查與驗(yàn)收分析

此款分析儀應(yīng)對EU（歐盟）電器及電子設(shè)備廢料回收（WEEE）和特定有害物質(zhì)的使用限制（RoHS）指令。

采用新式光學(xué)系統(tǒng)、高能X射線發(fā)生源、高分解能探測器，可以檢測塑料、包裝材料、顏料中鎘（Cd）、鉛（Pb）、水銀（Hg）、鉻（Cr）等特定有害物質(zhì)和砷（As）等有毒物質(zhì)，檢測精度達(dá)到ppm數(shù)量級