四探針電阻率/方阻測試儀四探針檢測儀北京供應KDY-1型四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試架及四探針頭組成。

產品型號：SN/KDY-1

更新時間：2024-10-21

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四探針電阻率/方阻測試儀四探針檢測儀

型號：SN/KDY-1

1、概述
KDY-1型四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份（簡稱：主機）、測試架及四探針頭組成。
本儀器的特點是主機配置雙數(shù)字表，在測量電阻率的同時，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時監(jiān)測全程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉換，更及時掌控測量電流。主機還提供精度為0.05%的恒流源，使測量電流高度穩(wěn)定。本機配有恒流源開關，在測量某些箔層材料時，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發(fā)生，更好地保護箔膜。儀器配置了本公司的產品：“小游移四探針頭”，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復性和準確度。本機如加配HQ-710E數(shù)據(jù)處理器，測量硅片時可自動進行厚度、直徑、探針間距的修正，并計算、打印出硅片電阻率、徑向電阻率的zui大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均習庋。給測量帶來很大方便。
2、主機技術能數(shù)
（1）測量范圍：
     可測電阻率：0.0001～19000Ω?cm
     可測方塊電阻：0.001～1900Ω?□
（2）恒流源：
     輸出電流：DC 0.001～100mA   五檔連續(xù)可調
    量程：0.001～0.01mA
           0.01～0.10mA
           0.10～1.0mA
           1.0～10mA
           10～100mA
恒流精度：各檔均低于±0.05%
（3）直流數(shù)字電壓表：
     測量范圍：0～199.99mV
     靈敏度：10μV
     基本誤差：±（0.004%讀數(shù)+0.01%滿度）
     輸出電源：≥1000ΩM
（4）供電電源：
     AC 220V±10%    50/60 Hz    功率：12W
（5）使用環(huán)境：
溫度：23±2℃   相對濕度：≤65%
無較強的電場干擾，無強光直接照射
（6）重量、體積：
主機重量：7.5kg
體積：365×380×160（單位：mm 長度×寬度×高度）